不同于單點傳感器，無損系統(tǒng)可一次性捕獲全場應(yīng)變/位移分布。以航空復(fù)合材料層合板為例，其內(nèi)部纖維取向差異會導(dǎo)致局部應(yīng)力集中，接觸式測量可能遺漏臨界區(qū)域。而三維DIC系統(tǒng)通過標定多相機視角，能同步重建面內(nèi)/離面位移場，識別分層、脫粘等缺陷的萌生位置。某研究顯示，該系統(tǒng)對碳纖維增強樹脂的裂紋擴展路徑預(yù)測誤差小于5%，遠優(yōu)于離散應(yīng)變片陣列。此外，結(jié)合紅外熱像儀還可實現(xiàn)熱-力耦合場分析，適用于剎車片、渦輪葉片等多物理場工況。 采用高防護標準，適應(yīng)高溫、粉塵等惡劣工業(yè)環(huán)境作業(yè)。上海ESPI無損檢測設(shè)備代理商

無損檢測設(shè)備的應(yīng)用之航空航天：目前，中國的航空航天技術(shù)已經(jīng)取得了巨大的進步，嫦娥五號探測器的每一個部件都有非常嚴格的檢驗標準，這是中國一次無人地外物體采樣。重要的部分是電路板。嫦娥五號探測器的中間控制單元電路板與計算機的CPU一樣重要。我們稱控制單元電路板為葡萄酒探測器的“大腦”由于衛(wèi)星產(chǎn)品的特殊性，所使用的組件不是行業(yè)中較小的組件。因此，檢測焊接質(zhì)量的主要困難不是部件的尺寸，而是部件的數(shù)量。在傳統(tǒng)的電路板上，組件的數(shù)量約為兩三百個，通常為500個。然而，探測器的重要電路板上焊接了2000多個組件，其中大部分是引腳芯片。檢測焊接質(zhì)量的更大困難是如此多引腳的間距和數(shù)量。因此，檢測檢測器的電路板的難度按簾的順序增加。上海ESPI無損裝置總代理采用節(jié)能設(shè)計，設(shè)備待機功耗降低40%，踐行綠色生產(chǎn)理念。

采用ACQTEC研索儀器三維光學(xué)測量技術(shù)，通過非接觸應(yīng)變測量獲取重載汽車車橋在負載下的全場位移應(yīng)變。通過分析不同工況下結(jié)構(gòu)受力過程位移變化和材料表面的應(yīng)變情況，可提供可靠的數(shù)據(jù)分析，以判斷車橋材料以及結(jié)構(gòu)的失效情況。使用全場變形測量方式對車橋加載變形測試，并結(jié)合有限元分析情況，可準確驗證車橋結(jié)構(gòu)中應(yīng)力值較高的單元集，有助于判斷車橋結(jié)構(gòu)危險點的疲勞情況及壽命。此外，分析車橋受力加載過程的結(jié)構(gòu)應(yīng)力應(yīng)變情況、變形關(guān)鍵位置和裂紋演化，也是一種非常高效、精確的測試方法。

超聲檢測：原理： 利用高頻聲波（超聲波）在材料中傳播，遇到缺陷或界面會產(chǎn)生反射、折射、散射等，通過分析回波信號來判斷缺陷位置、大小和性質(zhì)。系統(tǒng)組成： 超聲探傷儀（主機）、各種探頭（直探頭、斜探頭、相控陣探頭、TOFD探頭等）、耦合劑、掃查裝置（手動、自動、機器人）、數(shù)據(jù)分析與成像軟件（如A/B/C/D掃描、相控陣扇掃/線掃、TOFD圖譜）。特點： 對面積型缺陷（裂紋、未熔合）敏感，可測厚，穿透力強，適用于金屬、非金屬等多種材料。自動化程度高（如相控陣、TOFD）。了更好地滿足客戶的個性化需求，研索儀器科技（上海）有限公司提供了定制化服務(wù)。

    無損檢測之滲透探傷的測試步驟：1）檢驗：觀察顯示的跡痕應(yīng)在顯像劑施加后7～30分鐘內(nèi)進行，如顯示跡痕的大小不發(fā)生變化，則可超過上述時間。為確保檢查細微的缺陷，被檢零件上的照度至少達到350勒克斯。探傷結(jié)束后，為了防止殘留的顯像劑腐蝕被檢物表面或影響其使用，必要時應(yīng)清理顯像劑。清理方法可用刷洗、噴氣、噴水、用布或紙擦除等方法。2）干燥：干燥的方法有用干凈布擦干、壓縮空氣吹干、熱風(fēng)吹干、熱空氣循環(huán)烘干裝置烘干等方法。被檢物表面的干燥溫度應(yīng)控制在不大于52℃范圍內(nèi)。 結(jié)合機器學(xué)習(xí)算法，系統(tǒng)可自動優(yōu)化檢測參數(shù)，適應(yīng)不同生產(chǎn)環(huán)境。上海SE4無損裝置總代理

生成可視化質(zhì)量趨勢圖，助力管理者預(yù)判生產(chǎn)波動優(yōu)化決策。上海ESPI無損檢測設(shè)備代理商

在經(jīng)典的儀表管理中，我們一直使用“校驗”這個詞，但在計量管理中，我們稱之為“校準”。校準是指確定計量器具示值誤差（必要時也包括其他計量性能）的全部工作。雖然校準和檢定是兩個不同的概念，但兩者之間有密切的聯(lián)系，校準通常使用比被校計量器具精度高的計量器具（稱為標準器具）與被校計量器具進行比較，以確定被校計量器具的示值誤差，有時也包括部分計量性能。然而，進行校準的計量器具通常只需要確定示值誤差，而檢定則需要更嚴格的條件，因此需要在檢定室內(nèi)進行。雖然校準過程中可以進行調(diào)整，但調(diào)整并不等同于校準。因此，有人將校準理解為將計量器具調(diào)整到規(guī)定誤差范圍的過程是不夠確切的。上海ESPI無損檢測設(shè)備代理商